Sefram, elektronik test ve ölçüm ekipmanları alanında faaliyet gösteren bir firmadır. Ürün yelpazesi :
Osiloskoplar: Sefram, elektronik devrelerin işlevselliğini ve performansını görsel olarak gözlemlemek için kullanılan çeşitli osiloskoplar üretir. Bu osiloskoplar, geniş bant genişliği, yüksek örnekleme hızı ve yüksek çözünürlük gibi özelliklere sahip olabilir.
Spektrum Analizörleri: Şirket, radyo frekansı (RF) ve mikrodalga frekansı aralıklarındaki sinyalleri analiz etmek için spektrum analizörleri üretir. Bu cihazlar, frekans spektrumunda bulunan sinyalleri görüntülemek, analiz etmek ve ölçmek için kullanılır.
Veri Kaydediciler: Sefram, çeşitli endüstriyel uygulamalar için yüksek hızda veri toplama ve kaydetme amacıyla veri kaydediciler üretir. Bu cihazlar, sensörlerden veya diğer veri kaynaklarından gelen bilgileri kaydederek ileri analiz için kullanılabilir.
Fonksiyon ve Arbitrar Jeneratörler: Şirket, elektronik devrelerin test edilmesi ve kalibre edilmesi için fonksiyon ve arbitrar jeneratörler üretir. Bu jeneratörler, çeşitli sinyal tiplerini üretebilir ve frekans, genlik ve dalga formu gibi parametreleri ayarlayabilir.
Elektriksel işaretlerin ölçülüp değerlendirilmesinde kullanılan aletler içinde en geniş ölçüm olanaklarına sahip olan osiloskop, işaretin dalga şeklinin, frekansının ve genliğinin aynı anda belirlenebilmesini sağlar.
Dalga şeklini grafik olarak ekranda gösterir.Yani elektrik dalga sinyali çizer.
Oscilloscope (Osiloskop), elektronik sinyallerin görsel olarak gözlemlenmesi ve analiz edilmesi için kullanılan bir ölçü aletidir. Genellikle elektronik, iletişim, bilgisayar, tıp, fizik ve diğer birçok endüstride kullanılmaktadır.
Oscilloscope, zaman boyunca değişen gerilim sinyallerini ölçer ve bu sinyalleri ekran üzerinde grafik olarak gösterir. Bu grafik, genellikle "osillogram" olarak adlandırılır ve gerilim sinyallerinin genliğini, frekansını, dalga şeklini, faz farkını ve diğer özelliklerini analiz etmek için kullanılır.
Oscilloscope, sinyal analizinde çok önemli bir araçtır. Elektronik cihazların tasarımı, geliştirilmesi ve test edilmesinde kullanılarak, sinyallerin davranışları ve performansları hakkında önemli bilgiler sağlar. Ayrıca, hata ayıklama işlemlerinde ve arızaların tespit edilmesinde de sıkça kullanılır.
